机器视觉在表面缺陷检测中的应用

报告题目：机器视觉在表面缺陷检测中的应用

报 告 人：吴一全  教授、博士生导师

报告时间：8月1日（周四）  10:30-12：00

报告地点：明理楼A401

报告人简介：

吴一全，男，南京航空航天大学电子信息工程学院信息与通信工程系，教授，博士生导师。长期从事图像处理与分析、目标检测与识别、图像编码与视频通信、视觉检测与图像测量、视频处理与智能分析、数字水印与指纹识别及智能信息处理方向的教学和科研工作。主持国家自然科学基金、航空科学基金、国家重点实验室重点基金、教育部、中国科学院基金等48余项科研项目。在国内外核心学术期刊和国际学术会议发表论文350余篇，其中SCI、EI检索228篇，被引5000余次，多篇入选“F5000顶尖学术论文”。 吴一全教授担任20余家著名学术期刊的杰出评审专家，《仪器仪表学报》、《兵器与装备工程学报》等期刊编委，并担任IEEE国际会议程序委员，中国通信学会云计算与大数据专委，江苏省人工智能学会智能遥感常务专委，科普创作学会联合体专委，南京市创新投资集团专家委员会专家，兼任国家重点高新技术企业技术副总监和技术顾问，南京市科协首届第二届、第三届青年创新创业大赛信息技术专家组组长，苏州市创新创业领军人才评审专家。

报告内容摘要：

在半导体、PCB、汽车装配、液晶屏、3C、光伏电池、纺织等行业中，产品外观与产品性能有着千丝万缕的联系。表面缺陷检测是阻止残次品流入市场的重要手段。利用机器视觉的技术进行检测效率高、成本低，是未来发展的主要方向。讲座针对近十年来基于机器视觉的表面缺陷检测方法的研究进展进行总结，包括缺陷的定义、分类、缺陷检测的一般步骤；然后介绍使用传统图像处理方式、机器学习、深度学习进行缺陷检测的原理，并比较和分析优缺点及性能评价指标，并对该领域工作进行展望。

主办单位：电气信息学院

科学技术发展研究院